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J-GLOBAL ID：201802232208245119   Reference number：18A1237786

Development of a secondary electron energy analyzer for a transmission electron microscope

透過電子顕微鏡用の二次電子(SE)エネルギーアナライザの開発

Author (8)： MAGARA Hideyuki (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  TOMITA Takeshi (JEOL Ltd., Akishima, JPN) ,  KONDO Yukihito (JEOL Ltd., Akishima, JPN) ,  SATO Takafumi (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  AKASE Zentaro (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  AKASE Zentaro (RIKEN, Saitama, JPN) ,  SHINDO Daisuke (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SHINDO Daisuke (RIKEN, Saitama, JPN)
Material： Microscopy
Volume： 67  Issue： 2  Page： 121-124  Publication year： Apr. 2018 
JST Material Number： W1384A  ISSN： 2050-5698  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *transmission electron microscope ,  *electron ,  *analytical instrument ,  *electrification (static charge) ,  *Gold ,  oxide film ,  energy distribution ,  *secondary electron ,  natural oxide film ,  conversion coating film

JST classification (2)： Electron and ion microscopes  (BD02050B) ,  Auger and secondary electron emission  (BM09040O)

Terms in the title (6)： 透過電子顕微鏡 ,  二次電子 ,  Se ,  エネルギー ,  アナライザ ,  開発