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J-GLOBAL ID：201802244670646620   Reference number：18A1050697

粗大粒のための新しいX線応力測定法

Author (3)： SUZUKI KENJI (新潟大) ,  SHOBU TAKAHISA (原子力発電技術機構) ,  SHIRO AYUMI (量子科学機構)
Material： 日本材料学会学術講演会講演論文集  (Proceedings of the JSMS Annual Meetings)
Volume： 67th  Page： 203-204  Publication year： May. 25, 2018 
JST Material Number： Y0052A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray stress measurement ,  *multiple exposure ,  circuit pattern generation ,  superposition ,  energy ,  X-ray ,  high energy region ,  X-ray scattering ,  *crystal grain ,  *grain coarsening ,  X-Ray Diffraction ,  synchrotron radiation ,  *double exposure ,  energetic X ray ,  synchrotron x-ray diffraction ,  *modification

JST classification (1)： X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Terms in the title (1)： X線応力測定