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J-GLOBAL ID：201802255644327244   Reference number：18A2209760

High-pressure Electron Microscopy with Graphene Sandwich

グラフェンサンドイッチによる超高圧雰囲気電子顕微鏡観察法

Author (2)： SASAKI YUKI (一般財団法人ファインセラミックスセンターナノ構造研究所) ,  KAWASAKI TADAHIRO (一般財団法人ファインセラミックスセンターナノ構造研究所)
Material： まてりあ  (Materia Japan)
Volume： 57  Issue： 12  Page： 610(J-STAGE)  Publication year： 2018 
JST Material Number： F0163A  ISSN： 1340-2625  CODEN： MTERE2  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： graphene ,  sandwich structure ,  *very high pressure ,  *electron microscopy ,  transmission electron microscope ,  *silver iodide ,  pressurization ,  Fourier transformation ,  cubic system ,  superionic conductor ,  crystal structure

Author keywords (3)： in-situ observation ,  graphene ,  high-pressure

JST classification (2)： Crystal structure of other inorganic compounds  (BK07030J) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (2)：

• (1) Y. Sasaki, et al., Chem. Phys. Lett., 650(2016), 107-112.
• (2) K. S. Vasu, et al., Nature Comm., 7(2016), 12168.

Terms in the title (3)： 超高圧 ,  雰囲気 ,  電子顕微鏡観察