Art

J-GLOBAL ID：201802260909519056   Reference number：18A1790738

Optical absorption spectra of perovskite thin films for defect estimation by photothermal bending spectroscopy

光熱曲げ分光法による欠陥評価のためのペロブスカイト薄膜の光吸収スペクトル

Author (5)： HIROTA Yuta (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  KATO Hiroki (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  KAWAHARA Kouki (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  YOSHIDA Norimitsu (Gifu Univ., Gifu, JPN) ,  NONOMURA Shuichi (Gifu Univ., Gifu, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 57  Issue： 8S3  Page： 08RE07.1-08RE07.4  Publication year： Aug. 2018 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *optical absorption spectrum ,  *perovskite type crystal ,  thin film ,  iodide ,  lead compound ,  spectroscopy ,  *photothermal deflection spectroscopy ,  Fourier spectroscopy ,  recombination(connection)
Semi thesaurus term： photocurrent spectroscopy ,  non-radiative recombination

JST classification (2)： Infrared spectra,Raman scattering and Raman spectra of inorganic compounds  (BM08063C) ,  Lattice defects in semiconductors  (BK12040Q)

Reference (31)：

• A. Kojima, K. Teshima, Y. Shirai, and T. Miyasaka, J. Am. Chem. Soc. 131, 6050 (2009).
• Web [https://www.nrel.gov/pv/].
• M. A. Green, Y. Hishikawa, E. D. Dunlop, D. H. Levi, J. Hohl-Ebinger, and A. W. Y. Ho-Baillie, Prog. Photovoltaics 26, 3 (2018).
• W. S. Yang, J. H. Noh, N. J. Jeon, Y. C. Kim, S. Ryu, J. Seo, and S. I. Seok, Science 348, 1234 (2015).
• W.-J. Yin, T. Shi, and Y. Yan, Appl. Phys. Lett. 104, 063903 (2014).

Terms in the title (7)： 曲げ ,  分光法 ,  欠陥 ,  評価 ,  ペロブスカイト ,  薄膜 ,  光吸収スペクトル