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J-GLOBAL ID：201802261056383165   Reference number：18A0118431

Estimation by non-negative matrix factorization of dislocation regions in photoluminescence image of multicrystalline silicon

多結晶シリコンPL像中の転位領域の非負値行列因子分解による推定

Author (5)： KUDO HIROAKI (名古屋大) ,  HAYAMA YUSUKE (名古屋大) ,  MATSUMOTO TETSUYA (名古屋大) ,  KUTSUKAKE KENTARO (名古屋大) ,  USAMI NORITAKA (名古屋大)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 117  Issue： 356(IMQ2017 20-23)  Page： 13-18  Publication year： Dec. 08, 2017 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *polysilicon ,  *dislocation(crystal) ,  factorization ,  *lattice defect ,  estimation ,  *optical image ,  image reconstruction ,  photoluminescence ,  supervised learning ,  error (measure) ,  *image analysis ,  matrix (mathematics) ,  nonnegative matrix ,  non-negative matrix factorization
Semi thesaurus term： poly-crystalline silicon

JST classification (1)： Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Reference (5)：

• TRUPKE Thorsten, MCMILLAN Wayne,太陽電池の検査を高速化するフォトルミネセンス撮像法,Laser Focus Wold Japan,34-36,2011.
• 羽山優介,松本哲也,沓掛健太朗,高橋勲,工藤博章,宇佐美徳隆,データ科学的手法を用いた多結晶Si中の転位発生・伝搬の可視化,第78回応用物理学会秋季学術講演会,5a-A204-4,2017.
• 工藤博章,羽山優介,松本哲也,沓掛健太朗,宇佐美徳隆,多結晶シリコンPL像中の転位領域のスパースコーディングによる推定に関する検討,電子情報通信学会技術研究報告,117,229, IMQ2017-19,29-34,2017.
• 日野英逸,村田昇,スパース表現の数理とその応用,情報処理学会研究報告,2012-CVIM-183,20,1-10,2012.
• Scikit-learn: Machine Learning in Python, Pedregosa et al., JMLR, 12, 2825-2830, 2011.

Terms in the title (5)： 多結晶シリコン ,  PL ,  転位 ,  非負値行列因子分解 ,  推定