Art

J-GLOBAL ID：201802280606087084   Reference number：18A0000929

Self-healing metal wire and its stretchable device application.

自己修復型金属配線と伸縮デバイス応用

Author (2)： KOSHI TOMOYA (早稲田大 理工学術院) ,  IWASE EIJI (早稲田大 理工学術院)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 86  Issue： 12  Page： 1061-1064  Publication year： Dec. 10, 2017 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *restoration ,  *repair ,  *wiring ,  *metal wire ,  Electronics ,  cutting ,  electric fault ,  nano particle ,  supply ,  Metal Nanoparticles ,  *self healing ,  breaking of wire
Semi thesaurus term： stretchable electronics ,  voltage application

JST classification (1)： Manufacturing technology of solid-state devices  (NC03030V)

Reference (24)：

• T. Yokota, Y. Inoue, Y. Terakawa, J. Reeder, M. Kaltenbrunner, T. Ware, K. Yang, K. Mabuchi, T. Murakawa, M. Sekino, W. Voit, T. Sekitani, and T. Someya: Proc. Natl. Acad. Sci. USA. 112, 14533 (2015).
• L. Gao, Y. Zhang, V. Malyarchuk, L. Jia, K-I. Jang, R.C. Webb, H. Fu, Y. Shi, G. Zhou, L. Shi, D. Shah, X. Huang, B. Xu, C. Yu, Y. Huang, and J.A. Rogers: Nat. Commun. 5, 4938 (2014).
• J. Kim, G.A. Salvatore, H. Araki, A.M. Chiarelli, Z. Xie, A. Banks, X. Sheng, Y. Liu, J.W. Lee, K-I. Jang, S.Y. Heo, K. Cho, H. Luo, B. Zimmerman, J. Kim, L. Yan, X. Feng, S. Xu, M. Fabiani, G. Gratton, Y. Huang, U. Paik, and J.A. Rogers: Sci. Adv. 2, e1600418 (2016).
• B.P. Timko, T. Cohen-Karni, G. Yu, Q. Qing, B. Tian, and C.M. Lieber: Nano Lett. 9, 914 (2009).
• D-H. Kim, N. Lu, R. Ma, Y.S. Kim, R-H. Kim, S. Wang, J. Wu, S.M. Won, H. Tao, A. Islam, K.J. Yu, T-i. Kim, R. Chowdhury, M. Ying, L. Xu, M. Li, H-J. Chung, H. Keum, M. McCormick, P. Liu, Y-W. Zhang, F.G. Omenetto, Y. Huang, T. Coleman, and J.A. Rogers: Science 333, 838 (2011).

Terms in the title (4)： 自己修復 ,  金属配線 ,  伸縮 ,  応用