Art

J-GLOBAL ID：201802288785349492   Reference number：18A1493774

放射光白色X線を利用したラウエ回折による新たなひずみ評価技術開発

Author (6)： SHIRO AYUMI (量研機構) ,  SAITO HIROYUKI (量研機構) ,  SHOBU TAKAHISA (原子力発電技術機構) ,  TOYOKAWA HIDENORI (JASRI) ,  SAJI CHOJI (JASRI) ,  KAWASE MORIHIRO (JASRI)
Material： X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
Volume： 52nd  Page： 79-81  Publication year： 2018 
JST Material Number： F0605B  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： X-Ray Diffraction ,  synchrotron radiation ,  X-ray ,  synchrotron radiation facility ,  beam line ,  *strain measurement ,  semiconductor detector ,  cadmium telluride ,  X-ray image ,  stereoscopic image ,  high sensitivity ,  *synchrotron x-ray diffraction ,  white X ray ,  SPring-8 ,  *Laue method ,  3-dimensional image ,  *measurement
Semi thesaurus term： solid state detector ,  CdTe ,  3 dimensional image

JST classification (1)： X-ray diffraction methods  (BK01020I)

Terms in the title (6)： 放射光 ,  白色X線 ,  回折 ,  ひずみ ,  評価 ,  開発