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J-GLOBAL ID：201803000076942612

材料層の厚み測定方法

Inventor： 久保内 昌敏 ,  草野 正大 ,  荒尾 与史彦 ,  酒井 哲也
Applicant, Patent owner： 国立大学法人東京工業大学 ,  非破壊検査株式会社
Agent (3)： 北村 光司 ,  高尾 俊雄 ,  島田 尚子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016161497
Publication number (International publication number)：2018028521
Application date： Aug. 19, 2016
Publication date： Feb. 22, 2018
Summary：

【課題】測定を迅速に行うことの可能な材料層の厚み測定方法を提供する。【解決手段】複合材料120は音速の異なる複数の材料を厚さ方向に層状に有し、複数の材料は第一音速の第一材料121と第二音速の第二材料122であり、超音波を斜角θ1で入射させることの可能な第一探触子20と、第一探触子20より斜角θ1で入射させた超音波を斜角で受信する第二探触子30とを備え、第二探触子30は受信角に幅を有し、複数種の入射角で3回以上の測定を行うことにより音速の異なる複数の材料の各層の厚みを求める。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

複合材料は音速の異なる複数の材料を厚さ方向に層状に有し、前記複数の材料は第一音速の第一材料と第二音速の第二材料であり、超音波を斜角で入射させることの可能な第一探触子と、前記第一探触子より斜角で入射させた超音波を斜角で受信する第二探触子とを備え、複数種の入射角で3回以上の測定を行うことにより音速の異なる前記複数の材料の各層の厚みを求める材料層の厚み測定方法であって、 前記第二探触子が受信角に幅を有する垂直探触子である材料層の厚み測定方法。

IPC (1)：

G01B 17/02

FI (1)：

G01B17/02 Z

F-Term (8)：

2F068AA28 ,  2F068BB01 ,  2F068BB14 ,  2F068BB24 ,  2F068DD07 ,  2F068FF15 ,  2F068KK04 ,  2F068LL02