答案採点システム及び答案採点方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：特許業務法人むつきパートナーズ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017036982
Publication number (International publication number)：2018142248
Application date： Feb. 28, 2017
Publication date： Sep. 13, 2018
Summary：

【課題】記述式問題に対して作成された多数の答案を複数の採点者で採点する場合であっても、採点スキルの測定を行って、これを反映させることにより、客観性を担保しつつ迅速に採点を行おうとする答案採点システムの提供。【解決手段】選択された答案情報をホストコンピュータからクライアントコンピュータに送信しこの答案情報に対応して採点者の入力した採点情報の返信を受けてこれを蓄積していく答案採点システムである。採点情報は配点に基づいた点数測定による点数結果と、答案に関する肯定又は否定の二択質問文に対する質問回答と、を含み、二択質問文は少なくとも複数あって質問回答のパターンに対する点数結果を採点者のそれぞれについて集計する集計処理を行うことを特徴とする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

選択された答案情報をホストコンピュータからクライアントコンピュータに送信しこの答案情報に対応して採点者の入力した採点情報の返信を受けてこれを蓄積していく答案採点システムであって、前記採点情報は配点に基づいた点数測定による点数結果と、答案に関する肯定又は否定の二択質問文に対する質問回答と、を含み、前記二択質問文は少なくとも複数あって前記質問回答のパターンに対する前記点数結果を前記採点者のそれぞれについて集計する集計処理を行うことを特徴とする答案採点システム。

IPC (1)：

G06Q 50/20

FI (1)：

G06Q50/20 300

F-Term (1)：

5L049CC34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

理解傾向測定システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2012-232539 Applicant：株式会社教育測定研究所
デジタル採点システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-327453 Applicant：有限会社イント
評価支援装置、評価支援方法、及び評価支援プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-393592 Applicant：富士通株式会社

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