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J-GLOBAL ID：201803007001578260

測定用デバイス、及びそれを用いた測定装置

Inventor： 芹田 和則 ,  斗内 政吉 ,  村上 博成 ,  川山 巌 ,  北岸 恵子
Applicant, Patent owner： 国立大学法人大阪大学
Agent (1)： 前井 宏之
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2016075065
Publication number (International publication number)：WO2017038714
Application date： Aug. 26, 2016
Publication date： Mar. 09, 2017
Summary：

測定用デバイス(10)は、テラヘルツ波発生素子(31)と、測定対象注入流路(32)と、メタマテリアル(35)とを備える。テラヘルツ波発生素子(31)は、テラヘルツ波を発生する。測定対象注入流路(32)には、テラヘルツ波が照射される。メタマテリアル(35)は、テラヘルツ波を共振させる分割リング共振器(36)を1つ又は複数有している。分割リング共振器(36)のうちの少なくとも1つは、測定対象注入流路(32)の少なくとも一部と対向するギャップ部(37)を含む。測定用デバイス(10)は、測定対象注入流路(32)と、測定対象注入流路(32)に対向するギャップ部(37)又はそのギャップ部(37)付近とを透過した後のテラヘルツ波の周波数スペクトルを、測定対象注入流路(32)に測定対象が注入されているか否かに応じて変化させる。

Claim (excerpt)：

テラヘルツ波を発生するテラヘルツ波発生素子と、 前記テラヘルツ波が照射される測定対象注入流路又は有底の測定対象注入穴を含む測定対象注入部と、 前記テラヘルツ波を共振させる分割リング共振器を1つ又は複数有するメタマテリアルと を備え、 前記分割リング共振器のうちの少なくとも1つは、前記測定対象注入流路の少なくとも一部、又は前記測定対象注入穴の少なくとも一部と対向するギャップ部を含み、 前記測定対象注入部、及び前記ギャップ部又は前記ギャップ部付近を透過した後の前記テラヘルツ波の周波数スペクトルを、前記測定対象注入部に測定対象が注入されているか否かに応じて変化させる、測定用デバイス。

IPC (1)：

G01N 21/358

FI (1)：

G01N21/3586

F-Term (15)：

2G059AA01 ,  2G059BB05 ,  2G059CC15 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH05 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01