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J-GLOBAL ID：201803008671813797

分析装置

Inventor： 太田 禎生 ,  佐藤 一誠 ,  藤生 克仁 ,  山口 聡子 ,  脇 嘉代 ,  板橋 踊子 ,  堀▲崎▼ 遼一
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 東京大学 ,  国立大学法人大阪大学
Agent (3)： 棚井 澄雄 ,  飯田 雅人 ,  大浪 一徳
Gazette classification：再公表公報
Application number (International application number)：JP2016082089
Publication number (International publication number)：WO2017073737
Application date： Oct. 28, 2016
Publication date： May. 04, 2017
Summary：

光源からの光が照射される光照射領域に存在する観測対象物からの散乱光,透過光,蛍光,又は電磁波を受け取り,電気信号に変換する受光部から出力される前記電気信号の時間軸に基づいて抽出される信号に基づいて前記観測対象物を分析する分析部を備える分析装置。

Claim (excerpt)：

光源からの光が照射される光照射領域に存在する観測対象物からの散乱光,透過光,蛍光,又は電磁波を受け取り,電気信号に変換する受光部から出力される前記電気信号の時間軸に基づいて抽出される信号に基づいて前記観測対象物を分析する分析部 を備える分析装置。

IPC (3)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/17

FI (5)：

G01N15/14 K ,  G01N15/14 D ,  G01N15/14 C ,  G01N21/64 Z ,  G01N21/17 Z

F-Term (18)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043EA14 ,  2G043FA01 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB09 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE03 ,  2G059EE07 ,  2G059MM01 ,  2G059MM10