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J-GLOBAL ID：201803010270368256

検出装置及び検出方法、並びに、それを用いた電圧電流検出装置

Inventor：
林 司

About 林 司

, 
可貴 裕和

About 可貴 裕和


Applicant, Patent owner：
日新電機株式会社

About 日新電機株式会社


Agent (3)： 清水 敏 ,  上代 哲司 ,  神野 直美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2018028931
Publication number (International publication number)：2018136316
Application date： Feb. 21, 2018
Publication date： Aug. 30, 2018
Summary：
【課題】従来よりも効率よく且つ安全に部分放電に伴う電流を検出でき、また、従来よりも精度よく部分放電の位置を特定できる検出装置、検出方法、変成器を提供する。【解決手段】検出装置700は、NVセンサ702と、NVセンサから離隔して配置されたマイクロ波生成部704、レーザー光生成部706、NVセンサからの蛍光を検出する受光部708、並びに、レーザー光生成部及びマイクロ波生成部を制御する制御部710とを含み、制御部は、電力設備に配置されたNVセンサに対して、レーザー光及びマイクロ波を照射して、スピン磁気共鳴と基底状態から励起状態への遷移とを生じさせ、受光部により検出される蛍光の強度を取得する測定処理を繰返し、電圧電流の変化又は部分放電の発生を検出する。複数のNVセンサを備える場合には、制御部は、蛍光を測定して算出した磁場ベクトルから、部分放電の発生位置を特定する。【選択図】図17
Claim (excerpt)：
ダイヤモンド結晶中の炭素原子を置換した原子と、当該原子に隣接していた炭素原子が抜けた空孔との対により構成される置換原子空孔センタを有する素子と、 前記素子に照射するレーザー光を出力するレーザー光源と、 前記素子に照射するマイクロ波を出力するマイクロ波源と、 前記素子から放射される蛍光を検出する受光手段と、 前記レーザー光源及び前記マイクロ波源を制御する制御手段とを含み、 前記素子は、電気設備の内部又は前記電気設備の近傍に配置され、 前記マイクロ波源は、前記素子から所定距離以上離隔し、前記電気設備の外部に配置され、 前記制御手段は、前記素子に対して、前記レーザー光及び前記マイクロ波を照射することにより、当該素子が有する置換原子空孔センタに対して、電子スピン共鳴と基底状態から励起状態への遷移とを生じさせ、前記受光手段により検出される前記蛍光の強度を取得する測定処理を繰返し、 前記受光手段により取得された前記蛍光の強度から、前記電気設備内部における電流の発生又は変化を検出したか否かを判定する判定手段をさらに含むことを特徴とする、検出装置。
IPC (1)：
G01R 31/12
FI (1)：
G01R31/12 A
F-Term (3)：
2G015AA07 ,  2G015AA27 ,  2G015CA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (6)
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