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J-GLOBAL ID:201803013778816997

ポジトロン断層測定装置及びポジトロン断層測定画像の構成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2016233704
Publication number (International publication number):2018091669
Application date: Nov. 30, 2016
Publication date: Jun. 14, 2018
Summary:
【課題】より高性能なポジトロン断層測定装置及びポジトロン断層測定画像の構成方法を提供する。【解決手段】本発明の一観点に係るポジトロン断層測定装置は、シンチレーター層と、シンチレーター層を挟み互いの延伸方向が異なる一対の波長変換ファイバー層とを備える検出部と、シンチレーター層の発光位置を特定する発光位置特定部と、発光位置推定部が推定する発光位置に基づき画像構成を行う画像構成部と、を備える。また、本発明の他の一観点に係るポジトロン断層測定画像の構成方法は、上記装置を用いて行うものであって、画像構成部及び発光位置推定部の少なくともいずれかは、前記発光位置特定部が、所定の値以上発光している場合、当該発光を画像構成に反映させないステップを備える。【選択図】図3
Claim (excerpt):
シンチレーター層と、前記シンチレーター層を挟み互いの延伸方向が異なる一対の波長変換ファイバー層とを備える検出部と、 前記シンチレーター層の発光位置を特定する発光位置特定部と、 前記発光位置推定部が推定する発光位置に基づき画像構成を行う画像構成部と、を備えるポジトロン断層測定装置。
IPC (1):
G01T 1/161
FI (1):
G01T1/161 A
F-Term (9):
4C188EE02 ,  4C188FF07 ,  4C188GG15 ,  4C188GG19 ,  4C188GG20 ,  4C188JJ02 ,  4C188KK29 ,  4C188KK33 ,  4C188KK35
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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