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J-GLOBAL ID：201803020800350421

光学機器のキャリブレーション法

Inventor： 大谷 幸利 ,  柴田 秀平
Applicant, Patent owner： 国立大学法人宇都宮大学
Agent (4)： 志賀 正武 ,  鈴木 史朗 ,  飯田 雅人 ,  小林 淳一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2016180021
Publication number (International publication number)：2018044865
Application date： Sep. 14, 2016
Publication date： Mar. 22, 2018
Summary：

【課題】複屈折及び偏光特性の計測精度の向上を図るための偏光子アレイのキャリブレーション法を提供する。【解決手段】配向された方位の光を通過させる偏光部分が互いに異なる方位に配向されて複数配列された偏光子4を備えた光学機器28のキャリブレーション法であって、偏光部分がそれぞれ配向された方位にそれぞれ応じた直線偏光を偏光子4に照射し、偏光子4を通過した後の直線偏光の光強度を偏光部分毎に測定する工程と、偏光子4を通過した後の直線偏光の光強度に基づいて、偏光部分毎の直線二色性を算出する工程と、を備える。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

配向された方位の光を通過させる偏光部分が互いに異なる方位に配向されて複数配列された偏光子を備えた光学機器のキャリブレーション法であって、 前記偏光部分がそれぞれ配向された方位にそれぞれ応じた直線偏光を前記偏光子に照射し、前記偏光子を通過した後の前記直線偏光の光強度を前記偏光部分毎に測定する工程と、 前記偏光子を通過した後の前記直線偏光の光強度に基づいて、前記偏光部分毎の直線二色性を算出する工程と、 を備える光学機器のキャリブレーション法。

IPC (2)：

G01J 4/04 ,  G02B 5/30

FI (2)：

G01J4/04 Z ,  G02B5/30

F-Term (2)：

2H149AA22 ,  2H149BA02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 偏光計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-305680   Applicant：浜本哲也, 科学技術振興事業団

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• “Measurement of the radiometric and polarization characteristics of a microgrid polarizer infrared
• “偏光カメラの二色性キャリブレーション法”