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J-GLOBAL ID：201902242776792432   Reference number：19A2496845

Light scattering analysis for measuring the 3-D shape of a translucent object

半透明物体の三次元形状測定のための光散乱解析【JST・京大機械翻訳】

Author (2)： Ohtani Kozo (Hiroshima Institute of Technology, Hiroshima, Japan) ,  Baba Mitsuru (Ibaraki University, Ibaraki, Japan)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2019  Issue： SICE  Page： 151-155  Publication year： 2019 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： The light irradiated into a tr...

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Thesaurus term： ray tracing ,  simulation ,  *transparent material ,  *optical scattering ,  multiple reflection ,  *scattering ,  *shape measurement ,  *three dimension ,  *3D shape measurement

JST classification (1)： Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Terms in the title (4)： 透明物体 ,  三次元形状測定 ,  光散乱 ,  解析