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J-GLOBAL ID：201902243616379814   Reference number：19A0367528

The Theoretical and Experimental Estimation about XPS Spectra Using DV-Xα Molecular-Orbital Method and Its Application to Materials Informatics

DV-Xα分子軌道法によるXPSスペクトルの理論と実験的評価およびマテリアルズ・インフォマティクスの応用

Author (2)： OKAMITSU NOBUHARU (広島工大 大学院工学系研究科) ,  TANAKA TAKESHI (広島工大 工)
Material： 広島工業大学紀要 研究編  (Bulletin of Hiroshima Institute of Technology. Research Volume)
Volume： 53  Page： 79-88  Publication year： Feb. 01, 2019 
JST Material Number： S0777B  ISSN： 1346-9975  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray photoelectron spectrum ,  silicon ,  *electronic state ,  molecular orbital calculation ,  *X-alpha method ,  molecular orbital method ,  surface analysis ,  X-ray photoelectron spectroscopy ,  computer simulation ,  materials science
Semi thesaurus term： DV-X alpha method ,  Informatics ,  first principles calculation ,  surface electronic state

JST classification (2)： Electron spectroscopy  (BM09060K) ,  Electronic structure of crystalline semiconductors  (BM02060N)

Terms in the title (8)： 分子軌道法 ,  XPS ,  スペクトル ,  理論 ,  実験 ,  評価 ,  マテリアルズ・インフォマティクス ,  応用