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J-GLOBAL ID：201902259718514913   Reference number：19A0767907

Normal Direction Measurement Method for Glossy Surface with Holographic Optical Element

ホログラフィック光学素子を用いた光沢物体の表面法線方向の角度測定

Author (9)： SAIGO TOMOYASU (名古屋工業大学大学院) ,  SAIGO TOMOYASU ((株)マクシス エンジニアリング) ,  HATTORI KOOSUKE (中部大学) ,  HORIMAI HIDEYOSHI ((合)3Dragons) ,  SUMI NORIKATSU (名古屋工業大学大学院) ,  HOGURO MASAHIRO (中部大学) ,  TAGUCHI RYO (名古屋工業大学大学院) ,  UMEZAKI TAIZO (名古屋工業大学大学院) ,  UMEZAKI TAIZO (東京大学大学院)
Material： 精密工学会誌(Web)  (Journal of the Japan Society for Precision Engineering (Web))
Volume： 85  Issue： 2  Page： 182-188(J-STAGE)  Publication year： 2019 
JST Material Number： U0462A  ISSN： 1882-675X  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *holographic optical element ,  luster ,  *angle measurement ,  optical diffraction ,  dispersion ,  *hue ,  approximate expression ,  angular dependence ,  camera ,  color space ,  chrominance signal ,  specularity ,  color camera ,  RGB
Semi thesaurus term： HOE(optical element) ,  chromatic dispersion

Author keywords (10)： holographic optical element ,  glossy surface ,  normal direction measurement using hue value ,  wavelength distribution of diffracted light ray ,  machine vision lighting ,  holographic optical element ,  glossy surface ,  normal direction measurement using hue value ,  wavelength distribution of diffracted light ray ,  machine vision lighting

JST classification (2)： Applications of holography  (BD03074U) ,  Manufacturing technology of solid-state devices  (NC03030V)

Reference (11)：

• 1) D. B. Hovis and A. H. Heuer: The use of scanning confocal microscopy (LSCM) in materials science, Journal of Microscopy, 240, 3 (2010) 173.
• 2) M. B.Al-Quzweny et. al.: Determining metal surface waviness parameters and height liquid surface wave by tracking reflected laser speckle, International Journal of Advanced Research in Engineering and Technology(IJARET), 7, 2 (2016) 69.
• 3) 北川克一:光干渉法による三次元計測, 計測と制御, 50, 2 (2011) 97.
• 4) M. C. Knauer et. al.: Phase Measureing Deflectrometry: a new approach to measure specular free-form surfaces, Proc. SPIE, Optical Metrology in Production Engineering (2004) 5457.
• 5) D.-I. H. Loferer: Automatic painted surface inspection and defect detection, SENSOR + TEST conference2011. SENSOR Proceedings (2011) 971.

Terms in the title (5)： ホログラフィック光学素子 ,  光沢 ,  物体 ,  線方向 ,  角度測定