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J-GLOBAL ID：201902264136240626   Reference number：19A1522543

Initial carrier-injection dynamics in organic thin-film transistor observed with time domain reflectometry in thickness direction

厚み方向に時間領域反射率測定で観測した有機薄膜トランジスタにおける初期キャリア注入動力学

Author (7)： SAKAI Masatoshi (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  HONDA Takuto (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  KUDO Kazuhiro (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  OKADA Yugo (Chiba Univ., Chiba, JPN) ,  SADAMITSU Yuichi (Nippon Kayaku Co., Ltd., Tokyo, JPN) ,  HASHIMOTO Yuta (Nippon Kayaku Co., Ltd., Tokyo, JPN) ,  ONODERA Nozomi (Nippon Kayaku Co., Ltd., Tokyo, JPN)
Material： Applied Physics Express  (APEX)
Volume： 12  Issue： 5  Page： 051004.1-051004.4  Publication year： May. 2019 
JST Material Number： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *time domain spectroscopy ,  thickness ,  direction ,  *thin film transistor ,  *carrier injection ,  dynamics ,  impedance ,  time evolution ,  time resolution
Semi thesaurus term： *time domain reflectometry ,  *organic thin-film transistor

JST classification (2)： Thin films of organic compounds  (BK14070L) ,  Transistors  (NC03070N)

Reference (33)：

• T. Manaka, E. Lim, R. Tamura, and M. Iwamoto, Nat. Photonics 1, 581 (2007).
• T. Manaka, E. Lim, R. Tamura, D. Yamada, and M. Iwamoto, Appl. Phys. Lett. 89, 072113 (2006).
• T. Manaka, M. Nakao, E. Lim, and M. Iwamoto, Appl. Phys. Lett. 92, 142106 (2008).
• T. Manaka, F. Liu, M. Weis, and M. Iwamoto, J. Phys. Chem. C 113, 10279 (2009).
• Y. Tanaka, T. Manaka, and M. Iwamoto, Chem. Phys. Lett. 507, 195 (2011).

Terms in the title (7)： 厚み方向 ,  時間領域反射率測定 ,  観測 ,  有機薄膜トランジスタ ,  初期 ,  キャリア注入 ,  動力学