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J-GLOBAL ID：201902292010550016   Reference number：19A2019239

An empirical derivation of the X-ray optic transmission profile used in calibrating the Planetary Instrument for X-ray Lithochemistry (PIXL) for Mars 2020

火星2020のためのX線リソケミストリー(PIXL)のための惑星装置の校正に用いられるX線光学透過プロファイルの経験的導出【JST・京大機械翻訳】

Author (4)： Heirwegh C. M. (Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California) ,  Elam W. T. (Applied Physics Laboratory, University of Washington, Seattle, Washington) ,  Flannery D. T. (Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California) ,  Allwood A. C. (Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, California)
Material： Powder Diffraction  (Powder Diffr)
Volume： 33  Issue： 2  Page： 162-165  Publication year： 2018 
JST Material Number： T0527A  ISSN： 0885-7156  CODEN： PODIE2  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Calibration of the prototype P...

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Thesaurus term： smoothing ,  *planet ,  prototype ,  spectrum ,  *Mars ,  blank ,  *X-ray ,  refinement ,  pixel ,  high energy region ,  optical transmission ,  algorithm
Semi thesaurus term： 補正係数 ,  X線光学 , 【Automatic Indexing@JST】

Author keywords (5)： PIXL ,  MARS 2020 ,  optic transmission ,  X-ray lithochemistry ,  empirical derivation

JST classification (4)： Physical analysis of minerals,rocks,ores  (CC03090Y) ,  Crystal structure of heterocyclic compounds  (BK08030Q) ,  Crystal structure of minerals  (BK11000R) ,  Silicate minerals  (DE08030A)

Terms in the title (9)： 火星 ,  X線 ,  惑星 ,  校正 ,  X線光学 ,  透過 ,  プロファイル ,  経験 ,  導出