Art

J-GLOBAL ID：201902299813629979   Reference number：19A1328635

Design of a highly reliable, high-speed MTJ-based lookup table circuit using fractured logic-in-memory structure

フラクチャロジックインメモリ構造を用いた高信頼性の高速MTJベースのルックアップテーブル回路の設計

Author (2)： SUZUKI Daisuke (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  HANYU Takahiro (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 58  Issue： SB  Page： SBBB10.1-SBBB10.7  Publication year： Apr. 2019 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *logic circuit ,  *storage structure (computer) ,  reliability (property) ,  high speed ,  *tunnel junction ,  *look-up table ,  Electronics ,  CMOS technology
Semi thesaurus term： *logic circuit ,  *memory structure ,  high reliability ,  *MTJ

JST classification (2)： Magnetoelectric devices  (NC03100X) ,  Logic circuits  (NC05070B)

Reference (31)：

• N. Setter et al., J. Appl. Phys. 100, 051506 (2006).
• T. S. Böscke, J. Müller, D. Bräuhaus, U. Schröder, and U. Böttger, Appl. Phys. Lett. 99, 102903 (2011).
• J. Müller et al., J. Appl. Phys. 110, 114113 (2011).
• J. Müller, P. Polakowski, S. Mueller, and T. Mikolajick, ECS J. Solid State Sci. Technol. 4, N30 (2015).
• U. Schroeder, S. Mueller, J. Mueller, E. Yurchuk, D. Martin, C. Adelmann, T. Schloesser, R. van Bentum, and T. Mikolajick, ECS J. Solid State Sci. Technol. 2, N69 (2013).

Terms in the title (4)： 高信頼性 ,  MTJ ,  ルックアップテーブル ,  設計