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J-GLOBAL ID:201903002078894496
放射線計測方法及び放射線計測装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (7):
田中 貞嗣
, 蛭川 昌信
, 小山 卓志
, 青木 健二
, 韮澤 弘
, 米澤 明
, 片寄 武彦
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2015028396
Publication number (International publication number):2016151454
Patent number:6524484
Application date: Feb. 17, 2015
Publication date: Aug. 22, 2016
Claim (excerpt):
【請求項1】管理対象放射性物質と、前記管理対象放射性物質以外の放射性物質とを含む塵埃を捕集することで得られた集塵ろ紙やスミヤろ紙などの測定試料に対向させることにより該測定試料に付着している放射性物質に感応して検出信号を発生する多数の検出ピクセルを平面状に並べて放射線検出面を構成した放射線検出器の前記多数の検出ピクセルから出力される検出信号を、前記放射線検出面を複数の領域に分割して各分割領域に該当する検出ピクセルから出力される検出信号を検出処理し、分割領域毎に検出される放射線検出結果を出力することができる放射線計測装置を用いて該測定試料中の放射性物質の放射線量を計測する放射線計測方法において、
分割領域毎に検出される放射線検出結果では、前記管理対象放射性物質による放射線量の分布と、前記管理対象放射性物質以外の放射性物質による放射線量の分布とが異なることに基づいて、前記管理対象放射性物質による放射線量を計測することを特徴とする放射線計測方法。
IPC (2):
G01T 1/169 ( 200 6.01)
, G01T 1/167 ( 200 6.01)
FI (3):
G01T 1/169 C
, G01T 1/167 C
, G01T 1/167 H
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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2次元放射線表示装置および2次元放射線表示方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2012-001462
Applicant:株式会社東芝
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放射線画像撮影装置、画像処理方法、プログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-054083
Applicant:コニカ株式会社
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ガンマカメラシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2011-169998
Applicant:株式会社日立製作所
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放射性表面汚染検査装置および放射線表面汚染検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-134982
Applicant:株式会社東芝
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放射線源検出装置および検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-055742
Applicant:安西メディカル株式会社
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平面表示パネル検査修正装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-101228
Applicant:シャープ株式会社
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