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J-GLOBAL ID:201903003775622093

品質劣化推定装置、品質劣化推定方法、及びプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 伊東 忠重 ,  伊東 忠彦 ,  石原 隆治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2017134086
Publication number (International publication number):2019016958
Application date: Jul. 07, 2017
Publication date: Jan. 31, 2019
Summary:
【課題】通信網におけるエンド-エンドの観測値を用いてノード毎の品質劣化量の値を推定する技術において、品質劣化量の推定精度を向上させる技術を提供する。【解決手段】通信網を構成するノードの品質劣化を推定する品質劣化推定装置において、各観測経路の品質観測値、各観測経路の観測数、及び各観測経路の経路情報を入力する入力手段と、前記品質観測値と、各ノードの未知の劣化量に対する重み付けに使用される前記観測数 と、前記経路情報とに基づいて、各ノードの劣化量の推定値を算出する演算手段と、前記各ノードの劣化量の推定値を出力する出力手段とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt):
通信網を構成するノードの品質劣化を推定する品質劣化推定装置であって、 各観測経路の品質観測値、各観測経路の観測数、及び各観測経路の経路情報を入力する入力手段と、 前記品質観測値と、各ノードの未知の劣化量に対する重み付けに使用される前記観測数と、前記経路情報とに基づいて、各ノードの劣化量の推定値を算出する演算手段と、 前記各ノードの劣化量の推定値を出力する出力手段と を備えることを特徴とする品質劣化推定装置。
IPC (3):
H04L 12/26 ,  H04W 16/18 ,  H04W 24/08
FI (3):
H04L12/26 ,  H04W16/18 ,  H04W24/08
F-Term (10):
5K030GA11 ,  5K030JA10 ,  5K030MA04 ,  5K030MB01 ,  5K030MC07 ,  5K067EE02 ,  5K067EE06 ,  5K067EE10 ,  5K067EE16 ,  5K067LL01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特許第8145745号
Article cited by the Patent:
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