品質劣化推定装置、品質劣化推定方法、及びプログラム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (3)：伊東忠重 , 伊東忠彦 , 石原隆治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017134086
Publication number (International publication number)：2019016958
Application date： Jul. 07, 2017
Publication date： Jan. 31, 2019
Summary：

【課題】通信網におけるエンド-エンドの観測値を用いてノード毎の品質劣化量の値を推定する技術において、品質劣化量の推定精度を向上させる技術を提供する。【解決手段】通信網を構成するノードの品質劣化を推定する品質劣化推定装置において、各観測経路の品質観測値、各観測経路の観測数、及び各観測経路の経路情報を入力する入力手段と、前記品質観測値と、各ノードの未知の劣化量に対する重み付けに使用される前記観測数と、前記経路情報とに基づいて、各ノードの劣化量の推定値を算出する演算手段と、前記各ノードの劣化量の推定値を出力する出力手段とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

通信網を構成するノードの品質劣化を推定する品質劣化推定装置であって、各観測経路の品質観測値、各観測経路の観測数、及び各観測経路の経路情報を入力する入力手段と、前記品質観測値と、各ノードの未知の劣化量に対する重み付けに使用される前記観測数と、前記経路情報とに基づいて、各ノードの劣化量の推定値を算出する演算手段と、前記各ノードの劣化量の推定値を出力する出力手段とを備えることを特徴とする品質劣化推定装置。

IPC (3)：

H04L 12/26 , H04W 16/18 , H04W 24/08

FI (3)：

H04L12/26 , H04W16/18 , H04W24/08

F-Term (10)：

5K030GA11 , 5K030JA10 , 5K030MA04 , 5K030MB01 , 5K030MC07 , 5K067EE02 , 5K067EE06 , 5K067EE10 , 5K067EE16 , 5K067LL01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

特許第8145745号

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

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