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J-GLOBAL ID：201903006833672410

スピンホール現象を利用した磁界測定装置および方法

Inventor：
イ、 クン-ウォン

About イ、 クン-ウォン

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キム、 ドン-ソク

About キム、 ドン-ソク

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ジュ、 ソン-ジュン

About ジュ、 ソン-ジュン


Applicant, Patent owner：
コリア ユニバーシティ リサーチ アンド ビジネス ファウンデーション,セジョン キャンパス

About コリア ユニバーシティ リサーチ アンド ビジネス ファウンデーション,セジョン キャンパス


Agent (2)： 中島 淳 ,  加藤 和詳
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2018541223
Publication number (International publication number)：2019506606
Application date： Feb. 03, 2017
Publication date： Mar. 07, 2019
Summary：
本発明は、磁場測定装置および方法に関し、より詳細には、導電体に印加される電流でのスピンホール現象を利用して磁気異方性を有する磁性体にスピン電流を注入し、スピントルクによって前記磁性体の磁化を反転させながら、前記磁性体での磁気履歴曲線の移動程度を算出することにより、前記磁性体に印加された外部磁場を精密に測定することができる、磁場測定装置および方法に関する。本発明は、外部から印加される第1磁場を測定する磁場測定装置であって、導電体に電流を印加する電流印加手段、前記電流印加手段から電流の印加を受けてスピン電流が形成される導電体、前記導電体で形成されたスピン電流が注入される磁気異方性を有する磁性体、前記磁性体に第2磁場を印加する磁場印加手段、および前記第1磁場が印加されない状態での前記磁性体の磁気履歴曲線に対する、前記第1磁場が印加されることによる前記磁性体の磁気履歴曲線の移動程度を導き出した後、これを利用して前記第1磁場の強度を算出する制御部を含んで構成されることを特徴とする、磁場測定装置を開示する。
Claim (excerpt)：
外部から印加される第1磁界を測定する磁界測定装置であって、 導電体に電流を印加する電流印加手段、 前記電流印加手段から電流が印加されてスピン(spin)電流が形成される導電体、 前記導電体で形成されたスピン電流が注入される磁気異方性を有する磁性体、 前記磁性体に第2磁界を印加する磁界印加手段、および 前記第1磁界が印加されない状態での前記磁性体の磁気履歴曲線(hysteresis)に対する、前記第1磁界が印加されることによる前記磁性体の磁気履歴曲線(hysteresis)の移動(shift)程度を導き出した後、これを利用して前記第1磁界の強度を算出する制御部を含んで構成されることを特徴とする、磁界測定装置。
IPC (3)：
G01R 33/02 ,  G01R 33/07 ,  H01L 29/82
FI (3)：
G01R33/02 A ,  G01R33/07 ,  H01L29/82 Z
F-Term (15)：
2G017AA01 ,  2G017AA16 ,  2G017AD52 ,  2G017BA05 ,  2G017CA03 ,  5F092AA01 ,  5F092AB01 ,  5F092AC26 ,  5F092AD08 ,  5F092AD23 ,  5F092AD25 ,  5F092BD03 ,  5F092BD04 ,  5F092BD13 ,  5F092BD23
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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