Pat
J-GLOBAL ID：201903009473212820
残留応力算出方法、残留応力算出装置、及び残留応力算出プログラム
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
特許業務法人白坂
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2018042664
Publication number (International publication number)：2019158437
Application date： Mar. 09, 2018
Publication date： Sep. 19, 2019
Summary：
【課題】応力発光体の表面の残留応力や残留歪み量を算出する残留応力算出方法を提供することを目的とする。【解決手段】応力発光体に光を照射する第1照射ステップと、応力発光体に対して荷重を加える第1荷重ステップと、荷重が加えられて応力発光している応力発光体を撮像する第1撮像ステップと、応力発光体に最大荷重が加えられている状態で、応力発光体に光を照射する第2照射ステップと、第2照射ステップにおける光の照射を行った後に、荷重を開放する開放ステップと、荷重が開放された応力発光体を撮像する第2撮像ステップと、第2撮像ステップにおいて撮像された撮像画像に基づいて、応力発光体に残留している残留応力及び残留歪み量を算出する算出ステップとを含む。【選択図】図4
Claim (excerpt)：
応力発光体に光を照射する第1照射ステップと、
前記応力発光体に対して荷重を加える第1荷重ステップと、
前記荷重が加えられて応力発光している前記応力発光体を撮像する第1撮像ステップと、
前記応力発光体に最大荷重が加えられている状態で、前記応力発光体に光を照射する第2照射ステップと、
前記第2照射ステップにおける光の照射を行った後に、前記荷重を開放する開放ステップと、
前記荷重が開放された前記応力発光体を撮像する第2撮像ステップと、
前記第2撮像ステップにおいて撮像された撮像画像に基づいて、前記応力発光体に残留している残留応力及び残留歪み量を算出する算出ステップとを含む残留応力算出方法。
IPC (3)：
G01L 1/00
, G01N 21/63
, G01N 21/70
G01L1/00 B
, G01N21/63 Z
, G01N21/70
2G043AA03
, 2G043CA05
, 2G043DA01
, 2G043EA06
, 2G043FA01
, 2G043GA07
, 2G043GB08
, 2G043LA03
, 2G043NA06
Cited by examiner (2)
-
金属材料の残留応力測定方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2011-169587
Applicant：新日鐵住金株式会社
-
応力発光評価装置並びに応力発光評価方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2013-214181
Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
Return to Previous Page
