目的物質検出装置及び目的物質検出方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：塩田伸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2017136826
Publication number (International publication number)：2019020181
Application date： Jul. 13, 2017
Publication date： Feb. 07, 2019
Summary：

【課題】磁性粒子を用いた目的物質の検出に用いることができ、小型でかつ低コストに製造可能な目的物質検出装置等を提供すること。【解決手段】本発明の目的物質検出装置は、底面に対して上面側の面に配される検出面2aと、厚み方向に対し上面から底面側に向かうにつれて検出面2aから離れる方向に傾斜する上向き傾斜面2bと、光を受光して内部に導光可能とされる本体部2cとを有する全体略板状の光透過性部材2を備え、光透過性部材2が前記上面側から照射され上向き傾斜面2bを通過させた前記光を本体部2cを介して検出面2aに対し全反射条件で入射させる光入射構造を有する検出チップ1と、光透過性部材2の前記上面側に配され、前記光入射構造を介して検出面2aに全反射条件で光を照射可能とされる光照射部Bと、光透過性部材2の底面側に配される磁場印加部Cと、を備えること等を特徴とする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

底面に対して上面側の面に配される検出面と、厚み方向に対し前記上面から前記底面側に向かうにつれて前記検出面から離れる方向に傾斜する上向き傾斜面及び前記厚み方向に対し前記底面から前記上面側に向かうにつれて前記検出面から離れる方向に傾斜する下向き傾斜面のいずれかの傾斜面と、光を受光して内部に導光可能とされる本体部とを有する全体略板状の光透過性部材を備え、前記光透過性部材が前記上面側から照射され前記上向き傾斜面を通過させた前記光を前記本体部を介して前記検出面に対し全反射条件で入射させる第1の光入射構造及び前記上面側から照射され前記下向き傾斜面で反射された前記光を前記本体部を介して前記検出面に対し全反射条件で入射させる第2の光入射構造のいずれかの光入射構造を有する検出チップと、前記光透過性部材の前記上面側に配され、前記光入射構造を介して前記検出面に全反射条件で前記光を照射可能とされる光照射部と、前記光透過性部材の前記底面側に配される磁場印加部と、を備えることを特徴とする目的物質検出装置。

IPC (1)：

G01N 21/552

FI (1)：

G01N21/552

F-Term (12)：

2G059AA01 , 2G059BB04 , 2G059DD13 , 2G059EE02 , 2G059EE07 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059JJ02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ17 , 2G059KK01 , 2G059NN07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開平4-178539
特許第5301894号
ラベル粒子を検出するマイクロエレクトロニクスセンサデバイス
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2009-540926 Applicant：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ

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