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J-GLOBAL ID：202002227183696352   Reference number：20A0218699

Machine Learning Assisted Accurate Estimation of Usage Duration and Manufacturer for Recycled and Counterfeit Flash Memory Detection

リサイクルと偽造のフラッシュメモリ検出のための使用期間と製造者の機械学習支援の正確な推定【JST・京大機械翻訳】

Author (4)： Chattopadhyay Saranyu (Indian Institute of Technology Kharagpur) ,  Kumari Preeti (University of Alabama in Huntsville) ,  Ray Biswajit (University of Alabama in Huntsville) ,  Chakraborty Rajat Subhra (Indian Institute of Technology Kharagpur)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2019  Issue： ATS  Page： 49-495  Publication year： 2019 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： With the large-scale adaptatio...

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Thesaurus term： *machine learning ,  *flash memory ,  support vector machine ,  *producer ,  semiconductor ,  neural network(biomodel) ,  multiplex ,  duration time ,  detection method ,  recycle
Semi thesaurus term： 検出精度 ,  ロジスティック回帰分析 ,  *学習支援 ,  サプライチェーン ,  ビジネスモデル , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (1)： Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Terms in the title (8)： リサイクル ,  偽造 ,  フラッシュメモリ ,  使用期間 ,  製造者 ,  機械学習 ,  支援 ,  推定