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J-GLOBAL ID：202002228250762277   Reference number：20A1192462

Ion Camera: Microscope Mode Mass Spectrometry Imaging toward Industrial Applications

産業応用に向けた投影型質量分析イメージング『イオンカメラ』

Author (3)： HIRAO TSUYOSHI (光産業創成大学院大学) ,  HIRAO TSUYOSHI (浜松ホトニクス株式会社電子管事業部) ,  NAITO YASUHIDE (光産業創成大学院大学)
Material： Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan  (質量分析)
Volume： 68  Issue： 1  Page： 8-12(J-STAGE)  Publication year： 2020 
JST Material Number： G0046A  ISSN： 1340-8097  CODEN： JMSJEY  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *image processing ,  *MALDI-MS ,  *ionization ,  video camera ,  TOF ,  laser desorption mass spectrometry ,  throughput ,  mass spectrometer ,  *detector ,  resolving power ,  secondary ion mass spectrometry
Semi thesaurus term： CMOS camera ,  high throughput ,  mass resolving power ,  *Mass spectrometry imaging

Author keywords (14)： Mass spectrometry imaging ,  Mass microscope mode ,  High speed data acquisition ,  Ion camera ,  MALDI ,  LDI ,  SIMS ,  Mass spectrometry imaging ,  Mass microscope mode ,  High speed data acquisition ,  Ion camera ,  MALDI ,  LDI ,  SIMS

JST classification (2)： Mass spectrometry  (CC03013N) ,  Mass spectrometers  (BD02060M)

Reference (7)：

• 1) A. Smith, N. Mosele, V. L’Imperio, F. Pagni, and F. Magni, “Integration of Omics Approaches and Systems Biology for Clinical Applications,” ed. by A. Vlahou, H. Mischak, J. Zoidakis, and F. Magni, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken(2018),Chap. 9, p. 156.
• 2) J. Soltwisch, H. Kettling, S. Vens-Cappell, M. Wiegelmann, J. Müthing, and K. Dreisewerd, Science, 348, 211(2015).
• 3) A. Bednařík, M. Machálková, E. Moskovets, K. Coufalíková, P. Krásenský, P. Houška, J. Kroupa, J. Navrátilová, J. Šmarda, and J. Preisler, J. Am. Soc. Mass Spectrom., 30, 289(2019).
• 4) L. A. Klerk, A. F. M. Altelaar, M. Froesch, L. A. McDonnell, and R. M. A. Heeren, Int. J. Mass Spectrom., 285, 19(2009).
• 5) 林 雅宏,内藤康秀,J. Mass Spectrom. Soc. Jpn., 59(2),23(2011).

Terms in the title (4)： 産業応用 ,  投影 ,  質量分析イメージング ,  イオン