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J-GLOBAL ID：202002231026610752   Reference number：20A0607387

イメージセンサ技術の最新動向 3章 偏光イメージセンサ技術の動向

Author (1)： TOKUDA TAKASHI (東京工大 科学技術創成研究院 未来産技研)
Material： 映像情報メディア学会誌  (映像情報メディア)
Volume： 74  Issue： 2  Page： 283-286  Publication year： Mar. 01, 2020 
JST Material Number： F0330A  ISSN： 1342-6907  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *information media ,  *image processing system ,  projected image ,  *image sensor ,  visible light ,  polarized light ,  technological review ,  *factory inspection ,  *product inspection ,  strain ,  special purpose processor
Semi thesaurus term： 回転素子

JST classification (4)： Other information processing  (JE15050M) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I) ,  Image pickup and picture recording equipment  (ND12032E) ,  Quality inspection  (KB04020L)

Reference (13)：

• 1)A.G. Andreou and Z.K. Kalayjian: “Polarization imaging: principles and integrated polarimeters”, IEEE Sens. J., 2, 6, pp.566-576(Dec.2002)
• 2)T. Tokuda, H. Yamada, K. Sasagawa and J. Ohta: “Polarization-Analyzing CMOS Image Sensor with Monolithically Embedded Polarizer for Microchemistry Systems.”, IEEE Trans. Biomed. Circuits Syst., 3, 5, pp.259-66(Oct. 2009)
• 3)M. Sarkar, D.S.S. San Segundo Bello, C. van Hoof and A. Theuwissen: “Integrated Polarization Analyzing CMOS Image Sensor for Material Classification”, IEEE Sens. J., 11, 8, pp.1692-1703 (Aug. 2011)
• 4)N. Wakama et al.: “Polarisation analysing complementary metal-oxide semiconductor image sensor in 65-nm standard CMOS technology”, J. Eng., pp.1-3(2013)
• 5)M. Zhang, X. Wu, N. Engheta and J. Van der Spiegel: “A Monolithic CMOS Image Sensor with Wire-Grid Polarizer Filter Mosaic in the Focal Plane”, IEEE Trans. Electron Devices, 61, 3, pp.855-862(Mar.2014)

Terms in the title (4)： イメージセンサ ,  最新動向 ,  偏光 ,  動向