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J-GLOBAL ID：202002231306519527   Reference number：20A0270228

Targeted Partial-Shift For Mitigating Shift Switching Activity Hot-Spots During Scan Test

走査試験中のシフトスイッチング活性ホットスポットを緩和するための標的部分シフト【JST・京大機械翻訳】

Author (3)： Holst Stefan (Kyushu Institute of Technology) ,  Shi Shiling (Kyushu Institute of Technology) ,  Wen Xiaoqing (Kyushu Institute of Technology)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2019  Issue： PRDC  Page： 124-1245  Publication year： 2019 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Shifting scan chains during te...

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Thesaurus term： *scanning ,  effectiveness ,  electric potential ,  *hot spot ,  switching ,  chain ,  targeting ,  bistable circuit ,  combinatorial analysis ,  computability
Semi thesaurus term： ベンチマーク回路 ,  スキャン設計 ,  局在化 ,  クロックスキュー , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Graphic and image processing in general  (JE04010I) ,  Speach processing  (JE05000E)

Terms in the title (8)： 走査 ,  試験 ,  シフト ,  スイッチング ,  活性 ,  ホットスポット ,  緩和 ,  標的