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J-GLOBAL ID：202002232366695778   Reference number：20A0757016

軟X線領域において量子効率90%以上の性能を有する背面照射型CMOSイメージセンサの開発

Author (7)： HARADA TETSUO (兵庫県大) ,  TERANISHI NOBUKAZU (兵庫県大) ,  TERANISHI NOBUKAZU (静岡大) ,  WATANABE TAKEO (兵庫県大) ,  ZHOU Quan (Gpixel Inc.) ,  BOGAERTS Jan (Gpixel Inc.) ,  WANG Xinyang (Gpixel Inc.)
Material： 日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム(Web)  (日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム予稿集(Web))
Volume： 33rd  Page： ROMBUNNO.2E001 (WEB ONLY)  Publication year： Jan. 10, 2020 
JST Material Number： U1891A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *image sensor ,  quantum efficiency ,  soft X-ray ,  ultraviolet irradiation ,  performance evaluation ,  synchrotron radiation facility ,  *X-ray image ,  *CMOS Image Sensor ,  NewSUBARU
Semi thesaurus term： *X-ray imaging

JST classification (1)： X-ray instruments and techniques  (BA02060D)

Terms in the title (5)： 軟X線 ,  量子効率 ,  背面 ,  CMOSイメージセンサ ,  開発