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J-GLOBAL ID：202002233462293528   Reference number：20A0829960

Physics-Driven Dual-Defect Model Fits of Voltage Step-Up to Breakdown Data in Spacecraft Polymers

宇宙機高分子における絶縁破壊データへの電圧ステップアップの物理駆動二重欠陥モデル適合【JST・京大機械翻訳】

Author (2)： Andersen Allen (Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology,Pasadena,CA,USA,91109) ,  Dennison JR (Utah State University,Materials Physics Group,Logan,UT,USA,84322)
Material： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conf Proc)
Volume： 2019  Issue： CEIDP  Page： 14-17  Publication year： 2019 
JST Material Number： W2441A  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Abstract/Point： Overly conservative estimates ...

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Thesaurus term： dielectric material ,  fracture strength ,  *dielectric breakdown ,  case study ,  *voltage ,  maintenance ,  relaxation method ,  *macromolecule ,  Weibull distribution ,  biaxial ,  space environment ,  electrostatic discharge ,  *spacecraft ,  mechanical property ,  strength ,  *flying object
Semi thesaurus term： *space craft , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (5)： NMR in general  (BM07041R) ,  Code theory  (ND02030R) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I) ,  Special-purpose arithmetic and control units  (JC04030Y) ,  Medical image processing  (JE04020T)

Terms in the title (6)： 宇宙機 ,  高分子 ,  絶縁破壊 ,  物理 ,  欠陥 ,  モデル