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J-GLOBAL ID：202002270805796563   Reference number：20A1983420

Study of low-temperature Seebeck coefficient and Yb valence of Yb_1-xLu_xSi₂

Yb_1-xLu_xSi₂における低温のゼーベック係数とYb原子価の研究

Author (8)： NISHIDE AKINORI (日立 基礎研究セ) ,  NISHIDE AKINORI (大阪大 大学院工学研究科) ,  TANUSILP Sora-at (京大 複合原子力科研) ,  NAMBU AKIRA (日立 基礎研究セ) ,  MUTA HIROAKI (大阪大 大学院工学研究科) ,  HAYAKAWA JUN (日立 基礎研究セ) ,  KUROSAKI KEN (京大 複合原子力科研) ,  KUROSAKI KEN (大阪大 大学院工学研究科)
Material： 日本熱電学会誌  (Journal of the Thermoelectrics Society of Japan)
Volume： 17  Issue： 1  Page： 3-6  Publication year： Aug. 28, 2020 
JST Material Number： F2331A  ISSN： 1349-4279  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： transport coefficient ,  *thermoelectric material ,  ytterbium compound ,  lutetium compound ,  valence ,  electronic state ,  silicide ,  low temperature ,  f electron ,  *Seebeck coefficient ,  *output factor
Semi thesaurus term： valence fluctuation

JST classification (1)： Thermoelectric devices  (NC03090J)

Reference (25)：

• Papapetrou M., et al.: Appl. Therm. Eng. 138,207-216 (2018)
• Goldsmid H. J.: Thermoelectric Refrigeration, PlenumPress,New York 1964.
• Snyder G. J., Toberer E. S.: Nat. Mater. 7, 105 (2008).
• Lan Y., et al.: Adv. Funct. Mater. 20, 357 (2010).
• Qin H. B., et al.: Environ. Sci. Technol. 51, 11,6027-6035 (2017)

Terms in the title (5)： 低温 ,  ゼーベック係数 ,  Yb ,  原子価 ,  研究