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J-GLOBAL ID：202002275324781449   Reference number：20A1762405

Universal Testing for Linear Feed-Forward/Feedback Shift Registers

線形フィードフォワード/フィードバックシフトレジスタのためのユニバーサルテスト

Author (3)： FUJIWARA Hideo (Osaka Gakuin University) ,  FUJIWARA Katsuya (Akita University) ,  HOSOKAWA Toshinori (College of Industrial Technology, Nihon University)
Material： IEICE Transactions on Information and Systems (Web)  (IEICE Trans Inf Syst (Web))
Volume： E103.D  Issue： 5  Page： 1023-1030(J-STAGE)  Publication year： 2020 
JST Material Number： U0469A  ISSN： 1745-1361  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *shift register ,  *feedforward ,  *test ,  built-in self-test ,  coverage factor ,  circuit design ,  pattern formation
Semi thesaurus term： ATPG ,  scan design ,  *test generation ,  pattern generator ,  fault coverage ,  *Linear Feedback Shifter Register ,  BIST

Author keywords (7)： linear feed-forward shift registers ,  linear feedback shift registers ,  test generation ,  sequential logic ,  universal test ,  built-in self-test ,  secure scan design

JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Logic circuits  (NC05070B)

Reference (8)：

• [1] H. Fujiwara, Logic Testing and Design for Testability, The MIT Press, 1985.
• [2] P.H. Bardell, W.H. McAnney, and J. Savir, “Built-In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques,” Qual. Reliab. Eng. Int., vol.5, no.1, pp.89-90, 1989. 10.1002/qre.4680050119
• [3] D.K. Pradhan and C. Liu, “EBIST: a novel test generator with built-in fault detection capability,” IEEE Trans. Comput.-Aided Design Integr. Circuits Syst., vol.24, no.9, pp.1457-1466, Sept. 2005. 10.1109/tcad.2005.850815
• [4] M. Nourani, M. Tehranipoor, and N. Ahmed, “Low-Transition Test Pattern Generation for BIST-Based Applications,” IEEE Trans. Comput., vol.57, no.3, pp.303-315, March 2008. 10.1109/tc.2007.70794
• [5] J.D. Rolt, A. Das, G.D. Natale, M.-L. Flottes, B. Rouzeyre, and I. Verbauwhede, “Test versus security: past and present,” IEEE Trans. Emerg. Topics Comput., vol.2, no.1, pp.50-62, 2014. 10.1109/tetc.2014.2304492

Terms in the title (5)： 線形 ,  フィードフォワード ,  フィードバック ,  シフトレジスタ ,  テスト