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J-GLOBAL ID：202002275662938408   Reference number：20A2080980

Development of Quick Positioning System for Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy using Micro-Focused Beam

マイクロ集光硬X線光電子分光実験のための高速ポジショニングシステムの開発

Author (3)： YASUI AKIRA (高輝度光科学研究セ) ,  IKENAGA EIJI (高輝度光科学研究セ) ,  NAKAMURA TETSUYA (高輝度光科学研究セ)
Material： SPring-8/SACLA利用研究成果集(Web)  (SPring-8/SACLA Research Report (Web))
Volume： 8  Issue： 2  Page： WEB ONLY  Publication year： Aug. 21, 2020 
JST Material Number： U1844A  ISSN： 2187-6886  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *X-ray photoelectron spectroscopy ,  concentration distribution ,  scanner ,  chemical bond ,  neodymium containing alloy ,  iron base alloy ,  boron containing alloy ,  permanent magnet ,  dopant ,  X-ray microbeam ,  *elemental mapping ,  *hard X-ray photoelectron spectroscopy
Semi thesaurus term： scanning system ,  target position

JST classification (1)： Electron spectroscopy  (BM09060K)

Reference (9)：

• J. C. Woicik, Hard X-Ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) (Springer International Publishing, Cham, 2016).
• Y. Takata et al., Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 547, 50 (2005).
• E. Ikenaga et al., J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 190, 180 (2013).
• E. Ikenaga et al., Sync. Rad. News 31, 10 (2018).
• S. Tanuma, C. J. Powell and D. R. Penn, Surf. Interface Anal. 43, 689 (2011), and their reference articles.

Terms in the title (6)： マイクロ ,  集光 ,  硬X線光電子分光 ,  実験 ,  ポジショニング ,  開発