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J-GLOBAL ID：202002283134083830   Reference number：20A1235948

²⁷Al MAS NMR, EXAFS and X-ray induced absorption studies in Al-doped and Yb-Al-doped silica glasses fabricated by MCVD

MCVDにより作製したAlドープおよびYb-Alドープシリカガラスにおける²⁷Al MAS NMR,EXAFSおよびX線誘起吸収研究

Author (4)： Okazaki Tomoya (Toyota Technological Institute, 2-12-1 Hisakata, Tempaku, Nagoya 468-8511, Japan) ,  Arakawa Shuichi (Toyota Technological Institute, 2-12-1 Hisakata, Tempaku, Nagoya 468-8511, Japan) ,  Sekiya Edson Haruhico (Toyota Technological Institute, 2-12-1 Hisakata, Tempaku, Nagoya 468-8511, Japan) ,  Saito Kazuya (Toyota Technological Institute, 2-12-1 Hisakata, Tempaku, Nagoya 468-8511, Japan)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 59  Issue： 5  Page： 052002 (10pp)  Publication year： May. 2020 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： chemical vapor deposition ,  *Aluminum ,  *Ytterbium ,  *doping ,  *silica glass ,  27Al NMR ,  mass spectrum ,  *NMR ,  *EXAFS ,  X-ray absorption ,  coordination number ,  chemical shift ,  Rayleigh scattering ,  clustering ,  energy level ,  annealing (heat treatment) ,  quenching (cooling) ,  pair production ,  Glass ,  glass melt ,  trap level ,  modification
Semi thesaurus term： CVD ,  *silica glass ,  aluminium 27 NMR ,  mass spectrum ,  深い捕獲準位 ,  trap energy level ,  annealing treatment

JST classification (1)： Properties,analysis and test of glass  (YC02030Z)

Terms in the title (10)： 作製 ,  Al ,  ドープ ,  Yb ,  MAS ,  NMR ,  EXAFS ,  X線 ,  誘起 ,  研究