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J-GLOBAL ID：202002285210470266   Reference number：20A2239367

Observation of sliding mark on DLC film surface using X-ray photoemission electron microscopy

X線光電子顕微鏡を用いたDLC膜の摺動痕の観察

Author (9)： NORIZUKI SOTA (東京工大) ,  TUNMEE Sarayut (Synchrotron Light Res. Inst.) ,  EUARUKSAKUN Chanan (Synchrotron Light Res. Inst.) ,  RITTIHONG Ukit (Synchrotron Light Res. Inst.) ,  TOMIDOKORO MASASHI (東京工大) ,  SUPRUANGNET Ratchadaporn (Synchrotron Light Res. Inst.) ,  HIRATA YUKI (東京工大) ,  OTAKE NAOTO (東京工大) ,  AKASAKA HIROKI (東京工大)
Material： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
Volume： 67th  Page： ROMBUNNO.15a-D221-4  Publication year： Feb. 28, 2020 
JST Material Number： Y0054B  ISSN： 2436-7613  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： X-ray irradiation ,  Young's modulus ,  contrast ,  synchrotron ,  bearing ,  hydrogen ,  carbon ,  hydrocarbon ,  gas phase ,  *DLC film ,  *photoelectron ,  XAFS ,  alkyne
Semi thesaurus term： NEXAFS ,  構造変化 , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Thin films of other inorganic compounds  (BK14060A) ,  Carbon and its compounds  (YB02060D)

Substance index (1)： Acetylene

Terms in the title (5)： X線 ,  光電子顕微鏡 ,  DLC膜 ,  摺動 ,  観察