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J-GLOBAL ID：202002285317425792   Reference number：20A1479115

An Equivalent Circuit Simulation of an AC Corona Discharge Air Ionizer-Frequency Dependence of Neutralization Performance-

交流コロナ放電の空気イオナイザの等価回路シミュレーション 中性化性能の周波数依存性

Author (3)： OKANO M. (Ibaraki Univ., Hitachi, JPN) ,  IKEHATA T. (Ibaraki Univ., Hitachi, JPN) ,  TERASHIGE T. (Hiroshima International Univ., Hiroshima, JPN)
Material： International Journal of Plasma Environmental Science and Technology (Web)
Volume： 13  Issue： 1  Page： 14-20 (WEB ONLY)  Publication year： 2019 
JST Material Number： U2009A  ISSN： 2435-0125  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *ionization ,  *corona discharge ,  AC voltage ,  air ,  *equivalent circuit ,  circuit simulation ,  chemical property ,  frequency dependence ,  neutralization ,  condenser(capacitor) ,  production line ,  electronic circuit ,  current density ,  resistor ,  SPICE program
Semi thesaurus term： *ionizer ,  Air Ionization

JST classification (1)： Gas discharges  (BJ03020T)

Reference (28)：

• O. J. McAteer, “Electrostatic discharge control”, McGraw-Hill., U.S.A.,pp. 203-255, 1990.
• D. Krakauer, “ESD protection in a 3.3 V sub-micron silicided CMOS technology,” Journal of Electrostatics, vol. 31, Issues 2-3. pp. 111-129, 1993.
• S. U. Kim, “ESD induced gate oxide damage during wafer fabrication process,” Journal of Electrostatics, vol. 31, Issues 2-3. pp. 323-337, 1993.
• T. Terashige, D. Ohashi, and K. Okano, “Noise reduction of corona discharge air ionizer,” EOS/ESD Symposium, Charlotte, NC, U.S.A., pp. 243-247, 2002.
• S. Nagao, T. Terashige, and K. Okano, “Effect of space charge generated by air ionizer on noise in electric devices and/or electric circuit,” ECS Int’l Semiconductor Technology Conference, Shanghai, China, pp. 57-63, 2004.

Terms in the title (7)： 交流 ,  コロナ放電 ,  イオナイザ ,  等価回路 ,  シミュレーション ,  中性化 ,  周波数依存性