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J-GLOBAL ID：202002287513393293   Reference number：20A2236594

Kelvin Probe Study on Interface Properties of Solution-Processed Alkyl-Substituted Phthalocyanine Thin Film: II

ケルビンプローブフォース顕微鏡によるアルキルフタロシアニン塗布薄膜の界面物性評価 II

Author (6)： ISHIURA RYO (大阪大 大学院) ,  SHONO TAKUMA (大阪大 大学院) ,  FUJII AKIHIKO (大阪大 大学院) ,  ARITA MAKOTO (九大 大学院) ,  SUDO KOICHI (大阪大 産科研) ,  OZAKI MASANORI (大阪大 大学院)
Material： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
Volume： 67th  Page： ROMBUNNO.12a-A405-5  Publication year： Feb. 28, 2020 
JST Material Number： Y0054B  ISSN： 2758-4704  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： work function ,  *thin film ,  surface potential ,  organic semiconductor ,  Fermi level ,  subsidy ,  film thickness ,  analogical material ,  scanning probe microscope ,  highly oriented pyrolytic graphite ,  electron device ,  surface profile ,  heterointerface ,  aliphatic chlorine compound ,  trihalomethane ,  macrocyclic compound ,  nitrogen heterocyclic compound ,  bridged compound ,  polynuclear aromatic compound

JST classification (2)： Oxide thin films  (BK14050P) ,  Thin films of organic compounds  (BK14070L)

Substance index (2)： Chloroform ,  Phthalocyanine

Terms in the title (4)： ケルビンプローブフォース顕微鏡 ,  薄膜 ,  界面物性 ,  評価