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J-GLOBAL ID：202002291353378929   Reference number：20A2238743

Lock-in thermography for fast and precise electrical characterization technique of large area graphene sheet

ロックイン赤外線発熱解析法による大面積グラフェンの構造イメージング

Author (8)： NAKAJIMA HIDERO (産業技術総合研) ,  MORIMOTO TAKAHIRO (産業技術総合研) ,  OKIGAWA YUKI (産業技術総合研) ,  IKUTA YOSHIUE (産業技術総合研) ,  YAMADA TAKATOSHI (産業技術総合研) ,  KAWAHARA KENJI (九大 GIC) ,  AGO HIROKI (九大 GIC) ,  OKAZAKI TOSHIYA (産業技術総合研)
Material： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
Volume： 67th  Page： ROMBUNNO.14p-A404-1  Publication year： Feb. 28, 2020 
JST Material Number： Y0054B  ISSN： 2436-7613  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： crack ,  grain boundary ,  *infrared radiation ,  voltage ,  thermal conductivity ,  visualization ,  *image processing ,  electrical characteristic ,  optoelectronics ,  chemical vapor deposition ,  conductive property ,  *graphene
Semi thesaurus term： 高効率 ,  薄膜形成 ,  単層グラフェン , 【Automatic Indexing@JST】

JST classification (2)： Thin films of other inorganic compounds  (BK14060A) ,  Carbon and its compounds  (YB02060D)

Terms in the title (7)： ロックイン ,  赤外線 ,  発熱 ,  解析法 ,  大面積 ,  グラフェン ,  イメージング