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J-GLOBAL ID:202003003918215819

ヤード管理装置、ヤード管理方法、およびプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 國分 孝悦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2018196668
Publication number (International publication number):2020064497
Application date: Oct. 18, 2018
Publication date: Apr. 23, 2020
Summary:
【課題】初期山から最終山に金属材を積み替える際の、最終山の山姿、金属材の搬送順、および仮山の山姿を同時に最適化することを実操業上使用可能な時間内に実現できるようにする。【解決手段】ヤード管理装置100は、初期搬送順変数、最終搬送順変数、最終山割り当て変数、仮山位置割り当て変数を用いて、初期搬送と最終搬送の先後が異なる2つの鋼材グループのうち、初期搬送が先の鋼材グループの仮置きが必要になることを表す制約式と、同一の仮山に仮置きする2つの鋼材グループの初期搬送と最終搬送の順番の先後が逆になることを表す制約式を設定する。そして、ヤード管理装置100は、設定した制約式を満足するように、最終山および仮山の山数と仮置きの発生とが最小になることを目的とする目的関数の値が最小になるときの前記初期搬送順変数、最終搬送順変数、最終山割り当て変数、仮山位置割り当て変数を導出する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
工程間の置場であるヤードに山積みされる金属材からなる初期山の当該金属材を、搬送機器により搬送して、当該ヤードの後工程への払出順に従った積順で山積みされる金属材からなる最終山を作成するためのヤード管理装置であって、 任意の2つの前記金属材についての、前記初期山からの搬送である初期搬送の相対的な順序を定める二項変数である初期搬送順変数と、任意の2つの前記金属材についての、前記最終山への搬送である最終搬送の相対的な順序を定める二項変数である最終搬送順変数と、前記金属材が何れの前記最終山に属するのかを表す変数である最終山割り当て変数と、前記ヤードの仮置場に山積みされる金属材からなる仮山に前記金属材が山積みされる場合に当該金属材が何れの前記仮山に属するのかを表す変数である仮山割り当て変数とを決定変数とし、 前記初期山の識別情報および当該初期山の各積位置における前記金属材の識別情報と、前記金属材の前記払出順とを含む金属材情報を取得する金属材情報取得手段と、 第1の制約式と第2の制約式とを含む制約式を、前記金属材情報に基づいて設定する制約式設定手段と、 前記最終山の数を評価する評価指標と、前記ヤードの仮置場への仮置きが発生する前記金属材の数を評価する評価指標と、前記仮山の数を評価する評価指標とを含む目的関数を、前記金属材情報に基づいて設定する目的関数設定手段と、 前記制約式を満足する範囲で前記目的関数の値が最小または最大になるときの前記決定変数の値を最適解として導出することを、数理計画法による最適化計算を行うことにより実行する最適化計算手段とを有し、 前記第1の制約式は、任意の2つの前記金属材について、前記初期山からの搬送順の先後と、前記最終山への搬送順の先後とが異なる場合に、当該2つの金属材のうち、前記初期山からの搬送順が先の前記金属材は、前記仮置場に仮置きすることが必要であることを、前記決定変数を用いて表す制約式であり、 前記第2の制約式は、任意の2つの前記金属材が、同一の前記仮山に山積みされるためには、当該2つの前記金属材について、前記初期山からの搬送順の先後と、前記最終山への搬送順の先後とが異なる必要があることを、前記決定変数を用いて表す制約式であることを特徴とするヤード管理装置。
IPC (3):
G05B 19/418 ,  B65G 63/00 ,  G06Q 50/04
FI (3):
G05B19/418 Z ,  B65G63/00 B ,  G06Q50/04
F-Term (17):
3C100AA03 ,  3C100AA13 ,  3C100AA16 ,  3C100AA18 ,  3C100AA23 ,  3C100AA29 ,  3C100AA32 ,  3C100AA47 ,  3C100BB02 ,  3C100BB03 ,  3C100BB22 ,  3C100BB24 ,  3C100BB25 ,  3C100BB31 ,  3C100BB33 ,  3C100EE10 ,  5L049CC03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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