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J-GLOBAL ID：202003006823578646

損傷進展度測定方法および損傷進展度測定システム

Inventor： 藤尾 侑輝 ,  徐 超男
Applicant, Patent owner： 国立研究開発法人産業技術総合研究所
Agent (2)： 高松 孝行 ,  鈴木 徳子
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017527447
Patent number：6729912
Application date： Jul. 04, 2016
Claim (excerpt)：

【請求項1】一方の表面から他方の表面に向かって圧力がかかる被測定対象物の内部または当該一方の表面に発生した損傷の進展度を、当該他方の表面の状態から測定する損傷進展度測定方法であって、 前記一方の表面から前記他方の表面に向かってかかる圧力を加圧または減圧した際に、前記損傷により前記他方の表面に形成される2つのひずみ部を検出し、当該2つのひずみ部間の距離を測定することによって前記損傷の進展度を測定することを特徴とする損傷進展度測定方法。

IPC (3)：

G01M 99/00 ( 201 1.01) ,  G01N 3/32 ( 200 6.01) ,  G01N 19/08 ( 200 6.01)

FI (3)：

G01M 99/00 Z ,  G01N 3/32 H ,  G01N 19/08 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• ひび割れ検出システム及びひび割れ検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-358276   Applicant：関西ティー・エル・オー株式会社
• 管状部材の検査方法およびその装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-127669   Applicant：株式会社日立製作所
• 半導体チップの応力分布検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-105190   Applicant：松下電工株式会社
• 特開平2-098606
  
• 特開平3-167413