X線測定装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017217530
Publication number (International publication number)：2019090619
Patent number：6732240
Application date： Nov. 10, 2017
Publication date： Jun. 13, 2019
Claim (excerpt)：

【請求項1】測定対象にX線を照射するX線照射部と、上記測定対象で反射した後方散乱X線に応じた電気信号を検出するX線検出部と、上記X線検出部により検出された電気信号を参照して上記測定対象を測定する測定部と、上記後方散乱X線を通過させ、上記後方散乱X線を上記X線検出部上に結像させる開口が形成されたる開口部と、上記後方散乱X線の進行方向の上記開口部に対する上流側、および下流側のそれぞれに配された、所定のエネルギー量のX線を透過するフィルタとを備えることを特徴とするX線測定装置。

IPC (1)：

G01N 23/203 ( 200 6.01)

FI (1)：

G01N 23/203

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

X線反射波撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-322333 Applicant：株式会社アイビット
X線検査装置およびX線検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-053661 Applicant：株式会社東芝
放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム及び放射線画像撮影装置の電力供給方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2010-275184 Applicant：富士フイルム株式会社

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Cited by examiner (4)

X線反射波撮像装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-322333 Applicant：株式会社アイビット
X線検査装置およびX線検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-053661 Applicant：株式会社東芝
放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム及び放射線画像撮影装置の電力供給方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2010-275184 Applicant：富士フイルム株式会社

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