超音波測定方法、超音波測定プログラム、及び超音波測定装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： , ,
Agent (2)：伊東忠重 , 伊東忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2019078727
Publication number (International publication number)：2020174856
Application date： Apr. 17, 2019
Publication date： Oct. 29, 2020
Summary：

【課題】目的とする測定対象物の層の界面の位置または厚さを精度良く特定することのできる超音波測定技術を提供する。【解決手段】超音波測定方法は、測定対象物に超音波を照射し、前記測定対象物からの反射波を取得して前記測定対象物の深さ方向の音響インピーダンスを計算し、前記音響インピーダンスを二回微分して得られる変曲点に基づいて前記測定対象物の厚さを推定し出力する。【選択図】図6

Claim (excerpt)：

測定対象物に超音波を照射し、前記測定対象物からの反射波を取得して前記測定対象物の深さ方向の音響インピーダンスを計算し、前記音響インピーダンスを二回微分して得られる変曲点に基づいて前記測定対象物の厚さを推定し出力する、ことを特徴とする超音波測定方法。

IPC (1)：

A61B 8/14

FI (1)：

A61B8/14

F-Term (12)：

4C601DD01 , 4C601DD19 , 4C601DD21 , 4C601EE09 , 4C601EE11 , 4C601GC02 , 4C601GC03 , 4C601JB40 , 4C601JB46 , 4C601JC11 , 4C601KK02 , 4C601KK28

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

超音波検査方法、及び超音波検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-097017 Applicant：国立大学法人豊橋技術科学大学, 本多電子株式会社
表面特性測定方法、表面特性測定装置、及び表面特性測定プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2016-175317 Applicant：株式会社資生堂, 国立大学法人豊橋技術科学大学, 本多電子株式会社
特開昭62-081561

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