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J-GLOBAL ID：202003015870792400

質量分析装置及び質量分析方法

Inventor： 河井 洋輔 ,  豊田 岐聡 ,  本堂 敏信 ,  寺田 健太郎
Applicant, Patent owner： 国立大学法人大阪大学
Agent (1)： 特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2016081605
Publication number (International publication number)：2017191739
Patent number：6727577
Application date： Apr. 15, 2016
Publication date： Oct. 19, 2017
Claim (excerpt)：

【請求項1】 測定試料からイオン化されたイオンを検出する検出器により生成されたイオン電流信号をAD変換するAD変換器と、 前記AD変換器によりAD変換されたイオン電流信号に基づいて前記測定試料の質量スペクトルを生成するデータ処理器とを備え、 前記データ処理器が、前記AD変換されたイオン電流信号を積算することにより、前記質量スペクトルを生成するアナログモードプロセッシングと、 前記AD変換されたイオン電流信号のパルスの高さが、所定の閾値を超えた回数をカウントすることにより、前記質量スペクトルを生成するカウンティングモードプロセッシングとを実行し、 前記測定試料が、高濃度成分と低濃度成分とを含み、 前記イオン電流信号が、前記高濃度成分に対応する高濃度成分イオン電流信号と、前記低濃度成分に対応する低濃度成分イオン電流信号とを含み、 前記アナログモードプロセッシングは、前記高濃度成分イオン電流信号を積算することにより、前記高濃度成分の質量スペクトルを生成し、 前記カウンティングモードプロセッシングは、前記低濃度成分イオン電流信号のパルスの高さが前記所定の閾値を超えた回数をカウントすることにより、前記低濃度成分の質量スペクトルを生成することを特徴とする質量分析装置。

IPC (3)：

H01J 49/00 ( 200 6.01) ,  H01J 49/02 ( 200 6.01) ,  G01N 27/62 ( 200 6.01)

FI (4)：

H01J 49/00 360 ,  H01J 49/02 500 ,  G01N 27/62 D ,  G01N 27/62 V