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J-GLOBAL ID:202003017543890484

放射線被ばくの検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 謝 卓峰 ,  當別當 健司 ,  元山 忠行
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2018223161
Publication number (International publication number):2020080781
Application date: Nov. 29, 2018
Publication date: Jun. 04, 2020
Summary:
【課題】放射線被ばくバイオマーカーを利用する放射線被ばくの検出方法および該方法を実行するためのキットに関する。【解決手段】Slfn4、Itgb5、Smin3、Cxxlc、Tmem40、GplbbおよびLitafからなる群より選ばれる少なくとも1種の遺伝子、または該遺伝子のオルソログからなる群より選ばれる少なくとも1種の遺伝子のmRNA発現量を測定することを特徴とする、個体における放射線被ばくの検出方法。【選択図】なし
Claim (excerpt):
Slfn4、Itgb5、Smin3、Cxxlc、Tmem40、GplbbおよびLitafからなる群より選ばれる少なくとも1種の遺伝子、または該遺伝子のオルソログからなる群より選ばれる少なくとも1種の遺伝子のmRNA発現量を測定することを特徴とする、個体における放射線被ばくの検出方法。
IPC (3):
C12Q 1/06 ,  G01N 33/50 ,  G01N 33/53
FI (3):
C12Q1/06 ,  G01N33/50 P ,  G01N33/53 M
F-Term (13):
2G045AA25 ,  2G045CB01 ,  2G045DA14 ,  4B063QA01 ,  4B063QA20 ,  4B063QQ02 ,  4B063QQ03 ,  4B063QQ53 ,  4B063QR36 ,  4B063QR40 ,  4B063QR55 ,  4B063QR62 ,  4B063QS25
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • Proceedings of the 46th Annual ASTRO Meeting, 2004, Vol.60, No.1, p.S369-S370
  • RADIATION RESEARCH, 2020, Vol.193, p.274-285

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