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J-GLOBAL ID：202103000742305601

計測器装着支援装置と計測器装着支援方法

Inventor：
川口 拓之

About 川口 拓之

, 
山田 亨

About 山田 亨


Applicant, Patent owner：
国立研究開発法人産業技術総合研究所

About 国立研究開発法人産業技術総合研究所


Agent (1)： 森下 賢樹
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2019511239
Patent number：6872817
Application date： Apr. 02, 2018
Claim (excerpt)：
【請求項1】 被検体を撮像することにより得られた画像から予め定めた特徴点の座標を自動的に検出する座標検出手段と、 3次元頭部解剖学的画像における前記特徴点の座標を前記検出により得られた座標に変換するための投影変換パラメータを算出する変換パラメータ算出手段と、 前記被検体に装着させる計測器の位置を前記3次元頭部解剖学的画像において指定するための指定手段と、 前記指定手段を用いて指定された前記位置の座標を、前記投影変換パラメータを用いて変換する座標変換手段と、 前記座標変換手段による変換により得られた座標を前記撮像により得られた画像に表示する表示手段を備え、 前記指定手段は、前記3次元頭部解剖学的画像からの輝度情報を基に、測定対象の脳領域の中心座標を指定し、 前記座標変換手段は、指定された前記脳領域の中心座標の直上に当たる頭皮位置の座標を基準として、前記投影変換パラメータを用いて変換することにより、前記被検体に装着させる計測器の位置である前記撮像により得られた画像上の座標を算出する、計測器装着支援装置。
IPC (4)：
A61B 10/00 ( 200 6.01) ,  A61B 5/1455 ( 200 6.01) ,  G06T 7/70 ( 201 7.01) ,  G06T 3/00 ( 200 6.01)
FI (4)：
A61B 10/00 ZDM E ,  A61B 5/145 ,  G06T 7/70 A ,  G06T 3/00 750
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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