電荷検出回路及びそれを含む放射線検出装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (2)：長谷川芳樹 , 諏澤勇司
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2017037071
Publication number (International publication number)：2018141735
Patent number：6969734
Application date： Feb. 28, 2017
Publication date： Sep. 13, 2018
Claim (excerpt)：

【請求項1】発生する電荷の量を時系列に検出する回路であって、キャパシタを含み、電荷の入力をパルス状の電流信号として受けて前記キャパシタに前記電荷を蓄積することにより、前記電荷を電圧信号に変換する増幅器と、前記電圧信号と所定の閾値電圧とを所定の時間間隔で比較することにより比較信号を生成する比較器と、前記比較器によって前記所定の時間間隔で生成された前記比較信号の所定の状態の持続回数を計数して得た計数値を、前記電荷の入力信号の波高値を示す値として出力する計数器と、前記比較器によって前記所定の時間間隔で生成された前記比較信号が前記所定の状態を示す際に、前記増幅器の前記キャパシタから所定量の電荷を順次引き抜く電荷引抜部と、を含む電荷検出回路と、放射線の入射に応じて電荷を発生させ、前記電荷を前記電荷検出回路に入力する半導体検出器と、を備え、前記計数器は、前記電圧信号が前記所定の閾値電圧を超えたことを示す前記所定の状態の持続回数を計数し、前記電荷引抜部は、前記比較信号が前記電圧信号が前記所定の閾値電圧を超えたことを示す前記所定の状態を示す際に、前記所定量の電荷を引き抜き、前記比較信号が前記所定の閾値電圧以下になったことを示すまで、比較器の比較動作に同期して繰り返し前記所定量の電荷を引き抜き、前記増幅器は、前記比較信号が前記所定の閾値電圧以下となったことを示す際には、前記電荷引抜部による電荷の前記キャパシタへの供給が停止された状態で前記半導体検出器からの電荷を前記キャパシタに蓄積させる、放射線検出装置。

IPC (5)：

G01R 29/24 ( 200 6.01) , G01T 1/17 ( 200 6.01) , G01T 1/24 ( 200 6.01) , H04N 5/3745 ( 201 1.01) , H04N 5/32 ( 200 6.01)

FI (8)：

G01R 29/24 J , G01R 29/24 Z , G01T 1/17 A , G01T 1/24 , G01T 1/17 G , G01T 1/17 D , H04N 5/374 , H04N 5/32

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

固体撮像素子
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-108250 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
デジタル/アナログ変換装置及び数値制御発振装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-292843 Applicant：ソニー株式会社
半導体ベースの画像センサ
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2006-548535 Applicant：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ, フラオンホフェルゲゼルシャフトツルフォルデルングデルアンゲヴァンテンフォルシュングイーヴィ

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Cited by examiner (6)

固体撮像素子
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-108250 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
デジタル/アナログ変換装置及び数値制御発振装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-292843 Applicant：ソニー株式会社
半導体ベースの画像センサ
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2006-548535 Applicant：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ, フラオンホフェルゲゼルシャフトツルフォルデルングデルアンゲヴァンテンフォルシュングイーヴィ

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