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J-GLOBAL ID：202103008735955871
構造物検査システム、構造物検査装置及び構造物検査方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
弁護士法人クレオ国際法律特許事務所
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2018065749
Publication number (International publication number)：2019175350
Patent number：6833753
Application date： Mar. 29, 2018
Publication date： Oct. 10, 2019
Claim (excerpt)：
【請求項1】 構造物を撮像装置により撮像して得られた複数の画像データ、及び、少なくとも一部の前記画像データについてこの画像データが撮像された際の前記構造物と前記撮像装置との間の距離と異なる距離で同一の前記構造物の少なくとも一部を前記撮像装置により撮像して得られた参照画像データが格納された記憶装置と、構造物検査装置と、この構造物検査装置に入力指示情報を出力する入力装置と、前記構造物検査装置から出力される表示信号に基づいて表示画面を表示する表示装置とを有する構造物検査システムであって、
前記構造物検査装置は、
前記同一の前記構造物を撮像して得られた前記画像データ及び前記参照画像データの関連付けの入力を受け入れる関連付け部と、前記画像データに基づいて前記構造物の三次元モデルを生成する三次元モデル生成部と、前記三次元モデル生成部により生成された前記三次元モデルを前記表示装置に表示させる表示制御部と、前記構造物の位置の入力指定を受け入れる位置指定部と、前記関連付け部により受け入れられた関連付けに基づいて前記位置指定部により指定された前記構造物の位置が含まれる前記参照画像データを取得する参照画像データ取得部とを有することを特徴とする構造物検査システム。
IPC (4)：
G06F 16/587 ( 201 9.01)
, G06T 1/00 ( 200 6.01)
, G06Q 10/00 ( 201 2.01)
, G06Q 50/08 ( 201 2.01)
G06F 16/587
, G06T 1/00 200 E
, G06Q 10/00 300
, G06Q 50/08
Cited by applicant (1)
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画像管理装置、画像管理方法及びプログラム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2016-010776
Applicant：キヤノン株式会社
Article cited by the Patent：
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