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J-GLOBAL ID:202103014528433350

点群データの抽出方法、及び点群データの抽出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 木村 高明 ,  宮尾 雅文
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2017037620
Publication number (International publication number):2018141757
Patent number:6878045
Application date: Feb. 28, 2017
Publication date: Sep. 13, 2018
Claim (excerpt):
【請求項1】 測定経路に沿って移動させつつ測定装置の周囲を走査して取得した全周点群データから特定の解析対象物についての点群データである対象点群データを抽出するべく、 前記測定経路における前記測定装置の移動の軌跡を複数の軌跡点として表した軌跡点列データを取得し、 前記軌跡点列データから取得した軌跡点列の各軌跡点のそれぞれを基準として位置が定まると共に、指定された幾何学形状で特定される領域を抽出領域として設定し、 前記全周点群データのうち前記抽出領域に属する点データを対象点群データとして抽出する、点群データの抽出方法であって、 前記抽出領域が前記軌跡点からの垂線上の予め定めた位置に、予め設定した径と予め設定した高さ寸法に設定された複数の円柱領域であり、 前記抽出領域には、 複数の前記円柱領域と、 隣り合う2個の前記円柱領域に着目したときにおける前記2個の円柱領域のそれぞれの外周面に外接する平行な2面の接平面、前記2個の円柱領域の上面に相当する上側平面、前記2個の円柱領域の底面に相当する底平面、前記2個の円柱領域のそれぞれにおいて前記2面の接平面が前記外周面と接する2本の母線を含み前記円柱領域の直径をなす2面の直径平面で囲まれた平行六面体領域の内部領域と、を含むことを特徴とする点群データの抽出方法。
IPC (1):
G01B 21/00 ( 200 6.01)
FI (1):
G01B 21/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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