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J-GLOBAL ID：202103016574807144
超音波粒子径測定器及び超音波測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2020027251
Publication number (International publication number)：2020079802
Patent number：6910083
Application date： Feb. 20, 2020
Publication date： May. 28, 2020
Claim (excerpt)：
【請求項1】 超音波エネルギを微粒子に印加して超音波微粒子速度を前記微粒子に誘発させる超音波エネルギ印加器と、
前記超音波微粒子速度が誘発された微粒子により散乱された散乱波を受信する散乱波受信器と、
前記散乱波受信器により受信された散乱波に基づいて前記超音波微粒子速度を算出する超音波微粒子速度算出部と、
前記超音波微粒子速度算出部により算出された超音波微粒子速度に基づいて前記微粒子の粒子径を算出する粒子径算出部とを備え、
前記超音波エネルギ印加器により前記超音波エネルギを印加する印加回数と、前記印加回数に基づいて前記散乱波受信器により前記散乱波を受信する受信回数との比率がn(nは2以上の自然数):1であることを特徴とする超音波粒子径測定器。
IPC (2)：
G01N 29/02 ( 200 6.01)
, G01N 15/02 ( 200 6.01)
G01N 29/02
, G01N 15/02 D
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (2)
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